ABI Electronics Ltd
YouTube LinkedIn Twitter Google plus

Serie SYSTEM 8 - Soluciones flexibles y modulares.


La serie SYSTEM 8 está compuesta por módulos los cuales se combinan entre sí con el fin cumplir los requisitos y adecuarse a las aplicaciones en cada momento. Esta serie proporciona una gran capacidad de diagnóstico de fallos, incluyendo pruebas funcionales dentro del circuito y medidas discretas, siendo controlado por el Software SYSTEM 8. Los módulos pueden instalarse en un PC o combinarlos en un chasis externo con conexiones USB.

 

 

 

Escáner Matricial Avanzado (AMS)
El módulo AMS es un instrumento único capaz de tomar la firma V-I de los componentes variando la frecuencia automaticamente y sin alimentación. Las firmas pueden ser analizadas o comparadas, respecto a una firma de referencia, para detectar fallos, daños, componentes incompatibles o incorrectos así como cortocircuitos y circuitos abiertos. 64 canales + 4 canales individuales disponibles en cada módulo con parámetros regulables (frecuencia, voltaje, impedancia, pulsos de salida).


Rango de Pruebas: V-I, V-I-F, Matrix V-I, V-T prueba con pulsos.

 

 

Módulo de Pruebas Avanzado (ATM)
El ATM fué desarrollado para probar y diagnosticar todos los CIs y PCBs digitales de todas las familias lógicas, incluyendo TTL, CMOS, LVTTL y ECL. El módulo realiza pruebas con o sin alimentación, tanto dentro como fuera del circuito. Con especificaciones avanzadas y expandible hasta 2,048 canales, el módulo es perfecto para probar componentes y PCBs.


Rango de Pruebas: Tabla de verdad con librería (dentro y fuera del cirucito), prueba lógica personalizable (Todos los componentes lógicos), prueba funcional de la PCB, prueba de conexiones, prueba de voltaje, prueba térmica, prueba V/I, identificación de CI, detector de cortocircuitos.

 

 

 
 

Detector de averías de PCB digitales (BFL)
El BFL está dirigido a la prueba de CIs digitales TTL/CMOS. Con 64 canales de prueba, ofrece pruebas funcionales (dentro y fuera del circuito), conexiones y voltaje, así como análisis V-I y prueba térmica. Hasta 4 módulos pueden combinarse para ofrecer un máximo de 256 canales.


Rango de Pruebas: Tabla de verdad con librería (dentro y fuera del circuito), prueba lógica personalizable para TTL/CMOS, prueba de conexiones, prueba de voltaje, prueba térmica, prueba V-I, identificación de CI, detector de cortocircuitos, verificador de EEPROM.

 

 

Probador de CIs analógicos (AICT)
El AICT permite hacer pruebas funcionales a CIs analógicos y componentes discretos, dentro del circuito. Se pueden probar los dispositivos analógicos más comunes, según están configurados en la placa. El AICT también incluye una prueba V-I completamente configurable equipada con un generador de pulsos para las pruebas de dispositivos de activación (transistores, triacs, etc).


Rango de Pruebas: Funcional, prueba de conexiones, prueba de voltage, análisis de firma (VI),
prueba matricial V/I (opcional fuera del circuito), prueba V/T con pulsos.

 

 

 
 

Módulo de instrumentación virtual (MIS 4)
El Módulo de Instrumentación Virtual (MIS 4) ofrece no menos de 8 instrumentos de prueba y medida en un único módulo compacto. Perfecto para diseño y educación o para usar en cualquier banco de prueba, el MIS 4 reduce su espacio y tiempo ofreciendole las siguientes prestaciones: Osciloscopio virtual de almacenamiento digital, multímetro digital con tierras aisladas, generador arbitrario de frecuencia virtual, frecuencímetro virtual y contador de eventos, E/S programables, calculadoras integradas con registro de datos, controlador de pasos TestFlow, secuencias de diagnóstico automáticas e instrumentos personalizables. Para usarlos de forma óptima, los instrumentos pueden ser personalizados o rediseñados para adecuarse a las distintas aplicaciones.

 

 

Fuente de alimentación variable (VPS)
El VPS aporta la alimentación necearia a la unidad bajo prueba. Las 3 salidas son variables en voltaje y consta de una protección frente a sobre voltaje y limitaciónes de corriente.